深度制冷短波紅外相機 Leading640短波紅外相機 Leading320短波紅外相機 1550nm激光光斑跟蹤相機 低照度相機

超高幀頻制冷CCD 深度制冷短波紅外SWIR相機 科學級深度制冷X-Ray相機 SWIR短波紅外相機 高分辨率深度制冷CCD相機 高靈敏度EMCCD相機 高分辨率EMCCD相機 高幀頻電子倍增CCD相機 寬波段深度制冷EMCCD相機

CLPT320×256InGaAs探測器 CLPT640×512InGaAs探測器

便攜式紅外發射率測量儀 數字紅外輻射計

ID230單光子探測器/計數器 ID Qube NIR Free-Running紅外異步單光子探測器 ID Qube NIR Gated紅外單光子探測器 ID220單光子探測器/計數器 超導納米線單光子探測器 ID120單光子探測器/計數器 ID100單光子探測器/計數器 ID101OEM可見光光子計數器 ID900時間控制器 ID300短脈沖激光源

LWIR長波高光譜相機 MWIR中波高光譜相機 SWIR短波紅外高光譜相機 NIR近紅外高光譜相機 可見光-近紅外高光譜相機

進口短波紅外相機 夜視ICMOS相機 工業sCMOS相機 紫外相機 高分辨率天文學CCD相機

激光測距模組 激光測距探測器（APD） 激光器

TK絕對THz功率/能量計 THz功率計 THz時域光譜儀 THz相機 THz源 THz超快探測器

長波非制冷紅外熱像儀 長波制冷紅外熱像儀 中波制冷紅外熱像儀

多功能動態目標模擬系統 紅外圖像目標模擬器 激光模擬器 便攜式紅外目標模擬器 紅外點源、干擾目標模擬器 可見光目標模擬器

多譜段激光分布測試系統 大口徑平行光管 全自動定焦系統 紅外靈敏度測試系統 紅外導引、控制測試系統 告警能力探測概率測試系統 激光光電探測系統檢測裝置 野外便攜式多光軸平行性校正儀 大口徑平行光管測試儀 電視紅外圖像跟蹤性能檢測系統 紅外光學及成像測試系統 便攜式整機光學性能測試系統 激光膜層損傷閾值測試系統 多光譜多光軸測試系統

光學傳遞函數測試儀 相機/熱像儀/激光測試系統 微區拉曼/PL光譜分析儀 激光波長計/激光功率計

光導碲鎘汞HgCdTe PC（1um-26um） 光伏碲鎘汞HgCdTe PV（0.5um-11um） 銻化銦InSb（1um-5.5um） 硫化鉛PbS（1.0um-3.5um） 砷化銦InAs（1.0um-3.8um） 銦鎵砷InGaAs（0.5um-2.6um） 鍺Ge（0.5um-1.8um） 硅Si（300nm-1100nm） 碳化硅SiC（190nm-450nm）

SI-1600S大靶面COMS相機 SI-1100S大靶面CCD相機 SI-1000S深度制冷CCD相機 SI-850S深度制冷CCD相機 SI-800S深度制冷CCD相機

光電組合滑環 多通道光纖滑環 雙通道光纖滑環 微型光纖滑環 單通道光纖滑環

高精度光學元件 快速反射鏡 振鏡系列 聚焦可調鏡頭